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半导体激光芯片BAR条性能测试机
发布时间:2019年05月30日 19:09


产品介绍
设备用于测试边发射巴条半导体激光芯片的参数性能,包含LIV测试、光谱测试、远场发散角度测试等功能测试,可以全面的测量或演算出工作电流Io、输出光功率Po、斜率效率SE、串联电阻Rs、阈值电流Ith、中心波长λc、光谱宽度Δλ、扭折电流Ikink、扭折功率Pkink、均方根RMS、边模抑制比SMSR等参数。
 
特点
-功能模块化设计,按需选配
-人工上料,半自动化设计,自动完成校正,装载简单
显微镜图像辅助功能
-二线法/四线法测量
-测量精度高,性能稳定
--自动完成测试过程并打印报告

应用
边发射激光芯片BAR条的综合性能测试